介電常數介質損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法

一、介電常數介質損耗試驗儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。

  主要技術特性  

Q 值測量范圍  2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔  
固有誤差  ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作誤差  ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  
電感測量范圍                 4.5nH ～ 140mH  
電容直接測量范圍                 1 ～ 200pF  
主電容調節范圍                  18 ～ 220pF  
主電容調節準確度                 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  
信號源頻率覆蓋范圍               100kHz ～ 160MHz  
頻率分段 （ 虛擬 ）100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz，100-160MHz                              

頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

BD916介質損耗測試裝置技術特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm
 
電感：
 
線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

GDAT高頻 Q 表采用了多項技術：

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。 
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。 
計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。 
gdat高頻Q表的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具
，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。 

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